自從1965年第一臺商品掃描電鏡問世以來总滩，經(jīng)過40多年的不斷改進，掃描電鏡的分辨率從第一臺的25nm提高到現(xiàn)在的0.01nm，而且大多數(shù)掃描電鏡都能與X射線波譜儀、X射線能譜儀等組合芦圾，成為一種對表面微觀世界能夠經(jīng)行全面分析的多功能電子顯微儀器。

　　在材料領(lǐng)域中，掃描電鏡技術(shù)發(fā)揮著極其重要的作用，被廣泛應(yīng)用于各種材料的形態(tài)結(jié)構(gòu)逆趋、界面狀況、損傷機制及材料性能預(yù)測等方面的研究怜瞒。利用掃描電鏡可以直接研究晶體缺陷及其產(chǎn)生過程父泳，可以觀察金屬材料內(nèi)部原子的集結(jié)方式和它們的真實邊界，也可以觀察在不同條件下邊界移動的方式吴汪，還可以檢查晶體在表面機械加工中引起的損傷和輻射損傷等。 

　　1蒸眠、掃描電鏡的結(jié)構(gòu)及主要性能

　　掃描電鏡可粗略分為鏡體和電源電路系統(tǒng)兩部分漾橙。鏡體部分由電子光學(xué)系統(tǒng)、信號收集和顯示系統(tǒng)以及真空抽氣系統(tǒng)組成楞卡。 

　　1.1 電子光學(xué)系統(tǒng)

　　由電子槍霜运，電磁透鏡，掃描線圈和樣品室等部件組成蒋腮。其作用是用來獲得掃描電子束淘捡，作為信號的激發(fā)源。為了獲得較高的信號強度和圖像分辨率池摧，掃描電子束應(yīng)具有較高的亮度和盡可能小的束斑直徑焦除。 

　　1.2 信號收集及顯示系統(tǒng)

　　檢測樣品在入射電子作用下產(chǎn)生的物理信號，然后經(jīng)視頻放大作為顯像系統(tǒng)的調(diào)制信號∽魍現(xiàn)在普遍使用的是電子檢測器膘魄，它由閃爍體，光導(dǎo)管和光電倍增器所組成竭讳。 

　　1.3 真空系統(tǒng)

　　真空系統(tǒng)的作用是為保證電子光學(xué)系統(tǒng)正常工作创葡，防止樣品污染，一般情況下要求保持10-4~10-5Torr的真空度绢慢。 

　　1.4 電源系統(tǒng)

　　電源系統(tǒng)由穩(wěn)壓灿渴，穩(wěn)流及相應(yīng)的安全保護電路所組成，其作用是提供掃描電鏡各部分所需的電源胰舆。 

　　2骚露、掃描電鏡工作原理

　　掃描電鏡由電子槍發(fā)射出來的電子束，在加速電壓的作用下思瘟，經(jīng)過磁透鏡系統(tǒng)匯聚荸百，形成直徑為5nm，經(jīng)過二至三個電磁透鏡所組成的電子光學(xué)系統(tǒng)滨攻，電子束會聚成一個細的電子束聚焦在樣品表面够话。在末級透鏡上邊裝有掃描線圈蓝翰，在它的作用下使電子束在樣品表面掃描。由于高能電子束與樣品物質(zhì)的交互作用女嘲，結(jié)果產(chǎn)生了各種信息：二次電子畜份、背反射電子、吸收電子欣尼、X射線爆雹、俄歇電子、陰極發(fā)光和透射電子等愕鼓。這些信號被相應(yīng)的接收器接收钙态，經(jīng)放大后送到顯像管的柵極上，調(diào)制顯像管的亮度菇晃。由于經(jīng)過掃描線圈上的電流是與顯像管相應(yīng)的亮度一一對應(yīng)册倒，也就是說，電子束打到樣品上一點時磺送，在顯像管熒光屏上就出現(xiàn)一個亮點驻子。掃描電鏡就是這樣采用逐點成像的方法，把樣品表面不同的特征估灿，按順序崇呵，成比例地轉(zhuǎn)換為視頻信號，完成一幀圖像馅袁，從而使我們在熒光屏上觀察到樣品表面的各種特征圖像域慷。 

　　2.1 掃描電鏡襯度像

　　2.1.1 二次電子像

　　在入射電子束作用下被轟擊出來并離開樣品表面的核外電子叫做二次電子。這是一種真空中的自由電子司顿。二次電子一般都是在表層5~10 nm深度范圍內(nèi)發(fā)射出來的芒粹，它對樣品的表面形貌十分敏感，因此大溜，能非常有效地顯示樣品的表面形貌化漆。二次電子的產(chǎn)額和原子序數(shù)之間沒有明顯的依賴關(guān)系，所以不能用它來進行成分分析钦奋。 

　　2.1.2 背散射電子像

　　背散射電子是被固體樣品中的原子核反彈回來的一部分入射電子座云，背散射電子來自樣品表層幾百納米的深度范圍。由于它的產(chǎn)能隨樣品原子序數(shù)增大而增多付材，所以不僅能用作形貌分析朦拖，而且可以用來顯示原子序數(shù)襯度，定性地用作成分分析厌衔。

　　背散射電子信號強度要比二次電子低的多璧帝，所以粗糙表面的原子序數(shù)襯度往往被形貌襯度所掩蓋。 

　　2.2 掃描電鏡的附件

　　掃描電鏡一般都配有波譜儀或者能譜儀富寿。波譜儀和能譜儀是不能互相取代的睬隶，只能是互相補充锣夹。

　　波譜儀是利用布拉格方程2dsinθ=λ，從試樣激發(fā)出了X射線經(jīng)適當?shù)木w分光苏潜，波長不同的特征X射線將有不同的衍射角2θ银萍。波譜儀是微區(qū)成分分析的有力工具。波譜儀的波長分辨率是很高的恤左，但是由于X射線的利用率很低贴唇，所以它使用范圍有限。

　　能譜儀是利用X光量子的能量不同來進行元素分析的方法飞袋，對于某一種元素的X光量子從主量子數(shù)為n1的層躍遷到主量子數(shù)為n2的層上時戳气，有特定的能量ΔE=En1-En2。能譜儀的分辨率高授嘀，分析速度快物咳，但分辨本領(lǐng)差，經(jīng)常有譜線重疊現(xiàn)象蹄皱，而且對于低含量的元素分析準確度很差。

　　能譜儀與波譜儀相比的優(yōu)缺點：

　　(1) 能譜儀探測X射線的效率高芯肤。

　　(2) 能譜儀的結(jié)構(gòu)比波譜儀簡單巷折，沒有機械傳動部分，因此穩(wěn)定性和重復(fù)性都很好崖咨。

　　(3) 能譜儀不必聚焦锻拘，因此對樣品表面沒有特殊要求。

　　但是能譜儀的分辨率比波譜儀低击蹲；能譜儀的探頭必須保持在低溫狀態(tài)署拟，因此必須時時用液氮冷卻。 

　　3歌豺、試樣制備技術(shù)

　　和透射電鏡相比推穷，掃描電鏡試樣制備比較簡單。在保持材料原始形狀情況下类咧，可以直接觀察和研究試樣表面形貌及其它物理效應(yīng)（特征）馒铃，這是掃描電鏡的一個突出優(yōu)點。掃描電鏡的有關(guān)制樣技術(shù)是以透射電鏡痕惋、光學(xué)顯微鏡及電子探針X射線顯微分析制樣技術(shù)為基礎(chǔ)發(fā)展起來的区宇，有些方面還兼具透射電鏡制樣技術(shù)，所用設(shè)備也基本相同值戳。但因掃描電鏡有其本身的特點和觀察條件议谷，只簡單地引用已有的制樣方法是不夠的。掃描電鏡的特點是：

　《楹纭①觀察試樣為不同大小的固體（塊狀卧晓、薄膜芬首、顆粒），并可在真空中直接進行觀察禀崖。

　●帽佟②試樣應(yīng)具有良好的導(dǎo)電性能，不導(dǎo)電的試樣波附，其表面一般需要蒸涂一層金屬導(dǎo)電膜艺晴。

　　③試樣表面一般起伏（凹凸）較大掸屡。

　》饽④觀察方式不同，制樣方法有明顯區(qū)別仅财。

　”肪俊⑤試樣制備與加速電壓、電子束流盏求、掃描速度（方式）等觀察條件的選擇有密切關(guān)系抖锥。

　　上述項目中對試樣導(dǎo)電性要求是最重要的條件。在進行掃描電鏡觀察時碎罚，如試樣表面不導(dǎo)電或?qū)щ娦圆缓冒醴希瑢a(chǎn)生電荷積累和放電，使得入射電子束偏離正常路徑荆烈，最終造成圖像不清晰乃至無法觀察和照相拯勉。 

　　3.1 塊狀試樣制備

　　導(dǎo)電性材料：主要是指金屬，一些礦物和半導(dǎo)體材料也具有一定的導(dǎo)電性憔购。這類材料的試樣制備最為簡單宫峦。只要使試樣大小不得超過儀器規(guī)定（如試樣直徑最大為φ25mm，最厚不超過20mm等）玫鸟，然后用雙面膠帶粘在載物盤导绷，再用導(dǎo)電銀漿連通試樣與載物盤（以確保導(dǎo)電良好），等銀漿干了（一般用臺燈近距離照射10分鐘鞋邑，如果銀漿沒干透的話诵次，在蒸金抽真空時將會不斷揮發(fā)出氣體，使得抽真空過程變慢）之后就可放到掃描電鏡中直接進行觀察枚碗。

　　非導(dǎo)電性材料：試樣的制備也比較簡單逾一，基本可以像導(dǎo)電性塊狀材料試樣的制備一樣，但是要注意的是在涂導(dǎo)電銀漿的時候一定要從載物盤一直連到塊狀材料試樣的上表面肮雨，因為觀察時候電子束是直接照射在試樣的上表面的遵堵。 

　　3.2 粉末狀試樣的制備

　　首先在載物盤上粘上雙面膠帶，然后取少量粉末試樣在膠帶上的靠近載物盤圓心部位，然后用洗耳球朝載物盤徑向朝外方向輕吹（注意不可用嘴吹氣陌宿，以免唾液粘在試樣上锡足，也不可用工具撥粉末，以免破壞試樣表面形貌）壳坪，以使粉末可以均勻分布在膠帶上舶得，也可以把粘結(jié)不牢的粉末吹走（以免污染鏡體）。然后在膠帶邊緣涂上導(dǎo)電銀漿以連接樣品與載物盤爽蝴，等銀漿干了之后就可以進行最后的蒸金處理沐批。 

　　3.3 溶液試樣的制備

　　對于溶液試樣我們一般采用薄銅片作為載體。首先蝎亚，在載物盤上粘上雙面膠帶九孩，然后粘上干凈的薄銅片，然后把溶液小心滴在銅片上发框，等干了（一般用臺燈近距離照射10分鐘）之后觀察析出來的樣品量是否足夠躺彬，如果不夠再滴一次，等再次干了之后就可以涂導(dǎo)電銀漿和蒸金了梅惯。

來源：嘉裕檢測網(wǎng)